English 简体中文

主页 > 产品 > 光伏和太阳能 > MX 204-8-49-q

MX 204-8-49-q

应用

用于 125-156 毫米太阳能晶片的自动⼏何测量仪。

MX204-8-49-q 可作为手动加载的独立工具使用，也可完全集成到自动化机器人系统中。它有 49 个测量点，能以高分辨率控制厚度、弯曲度和翘曲度。通过上游定心站，不同尺寸的晶片无需更换即可使用。配有功能强大的MX-NT 操作软件。

测量类型

厚度 平整度（TTV） 弯曲度 翘曲度 SORI

特点

晶片直径 125 毫米、156 毫米
厚度精度 ±1 µm
分辨率 0.1 微米
厚度范围 200 - 600 µm
自动晶片⼏何测量仪 是
软件 MXNT

相关产品

向下滚动，查看更多信息

哪种工具
符合我的需求？

您有问题、愿望或订单？
我们很乐意为您提供咨询。


E+H Metrology 承诺保护和尊重您的隐私。我们仅将您的个人信息用于管理您的账户以及提供您所要求的产品和服务。

Heiko Rings 肖像，生产经理（机械）传感器系统设计

Heiko Rings

+49 (0)721 83118-16
sensors(at)eh-metrology.com

 

向下滚动，查看更多信息
搜索表格