E+H Metrology 重新啟動
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让成功变得可测量。您是否面临尚未解决的亚纳米级测量任务？复杂的个性化工艺要求？请关注本质：贵公司的生产成功。我们将竭诚为您服务。E+H 为您量身定制计量和自动化基础。
- 创新需要经验：我们通过德国制造的领先定制技术为您确保宝贵的竞争优势。
- 我们成熟可靠的高精度产品可根据国际校准标准提供可重复的结果。
- 我们的产品成本低廉，使用寿命极长，维护和支持要求极低，因此具有可以想象的最佳成本/效益比。
- 我们的系统可确保最高的产量和对生产的有效控制。
- 我们的经销商网络在全球范围内为您提供经验丰富的现场工程师支持。
- 一站式服务：从咨询、开发到在德国生产以及实施后的技术支持。我们的每个软件解决方案都是自主开发的，电子、机械和结构也是如此。
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09-2022
04-2021
GNS 全球奈米鏡頭
重新思考 Makyoh 技術
2021
健康成長
在卡爾斯魯厄，E+H 遷入更大的新址，以進行開發、生產、測試技術和支援。
2015
AMA 創新獎
E+H 憑藉領先的撓度測量技術榮獲夢寐以求的 Ama 創新獎
2008
450: 尺寸重要時
第一家在 2008 年半導體展會上展示 450mm 工具的公司
2001
新管理層
經過 33 年的成功經營，Wilfreid Eichhorn 將公司管理的接力棒交給 Daniel Raseghi。
1996
第一批 300 mm 工具
在歐洲半導體展覽會上，我們自豪地展示了第一台 300 mm 厚度和平面度計。
1992
太陽能光電的先驅
在二十世紀初，E+H 已經站在光電產業技術發展的最前端
1978
第一個半導體應用
第一台幾何測頭是針對半導體應用而開發的： 測量矽晶圓或任何其他導電基板的厚度
1968
E+H 成立
Wilfried Eichhorn 和 Taddaeus Hausmann 實現了他們的商業理念：消除電纜容量的線性電容式距離感測器。
Future
Past
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