MX 301-Q

应用

适用于 30-200 毫米非导电晶片的简便单点测厚仪。

MX301-Q 是一款坚固、稳定的仪器,用于快速、简单的手动测厚。适用于由石英、蓝宝石或玻璃等绝缘材料组成的各种晶片。完全自动校准,无需测量块或基准晶片。内置 5 位数显示屏。可独立工作,也可通过串行接口与电脑连接,从而收集多个测量数据,计算单个晶片或整批晶片的平面度(TTV)、平均值或标准偏差。


测量类型

厚度

特点

晶片直径 最大 200 毫米
厚度精度 ±0.5µm
分辨率 0.1µm
厚度范围 默认 450 - 750µm
可切换测量高分辨率材料
软件 EHMaster

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