MX 604-ST
应用
适用于最大 156 毫米太阳能晶片的厚度和电阻率综合测量仪
MX604-ST 专用于鉴定太阳能晶片。适用于最大 156 毫米的方形晶片和 2 英寸至 200 毫米的圆形晶片。它结合了同时测量厚度和电阻率的传感器。完全自校准，因此温度和湿度变化可以忽略不计。集成字母数字显示屏。可独立工作，也可通过串行接口连接到 PC，从而收集单个晶片或整批晶片的多次测量数据、平均值或标准偏差。
适用于最大 156 毫米太阳能晶片的厚度和电阻率综合测量仪
MX604-ST 专用于鉴定太阳能晶片。适用于最大 156 毫米的方形晶片和 2 英寸至 200 毫米的圆形晶片。它结合了同时测量厚度和电阻率的传感器。完全自校准，因此温度和湿度变化可以忽略不计。集成字母数字显示屏。可独立工作，也可通过串行接口连接到 PC，从而收集单个晶片或整批晶片的多次测量数据、平均值或标准偏差。
