MX70 - 高分辨率
厚度和表面轮廓仪

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MX 70x 系列可测量硅晶片的厚度、翘曲度、波纹度和粗糙度。它可用于纳米制图。可作为自动机器人系统的模块使用。

MX 70 系列的测量类型：

厚度波纹度粗糙度纳米层析

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MX70 系列

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