MX60 -用于晶片鉴定的电阻仪

向下滚动，查看更多信息

向下滚动，查看更多信息

MX60 系列可测量硅块或硅片、太阳能晶片和半绝缘材料的电阻率。可部分集成到自动化流程中。

MX 60 系列的测量类型：

厚度电阻率板材电阻 P/N 注释

向下滚动，查看更多信息

MX60 系列

哪种工具
符合我的需求？

您有问题、愿望或订单？
我们很乐意为您提供咨询。

公司名称

名称 *

地址

国家 *

电子邮件 *

电话

留言 *

E+H Metrology 承诺保护和尊重您的隐私。我们仅将您的个人信息用于管理您的账户以及提供您所要求的产品和服务。

E+H Metrology 产品销售经理 Peter Michel 的肖像

彼得-米歇尔

+49 (0)721 83118-17
sales(at)eh-metrology.com

向下滚动，查看更多信息