MX 203-4-21
应用
用于 2-4" 硅晶片的快速非接触式⼏何测量仪。
高产能：MX203-4-21 有 21 个测量点，最多可在 5 秒内测量每个硅片。5 秒钟。它可以控制厚度、弯曲度和翘曲度。还可选配硅片应力评估功能。通过不同的中心框架灵活调整晶片尺寸。配有功能强大的MX-NT 操作软件。
用于 2-4" 硅晶片的快速非接触式⼏何测量仪。
高产能：MX203-4-21 有 21 个测量点，最多可在 5 秒内测量每个硅片。5 秒钟。它可以控制厚度、弯曲度和翘曲度。还可选配硅片应力评估功能。通过不同的中心框架灵活调整晶片尺寸。配有功能强大的MX-NT 操作软件。
