抵抗力
无论是在研磨后的生产过程中，还是在晶片回收过程中进行测试：电阻率都决定着每一个后续加工步骤。
E+H Metrology 提供各种电阻率测量系统：硅片生产过程中的电阻率检测、太阳能硅片或硅块的测量。所有测量均通过涡流完成，快速且完全无接触，无需事先进行材料制备。
通过MX 601测量仪，我们还为砷化镓、磷化铟或氮化镓等半绝缘材料提供了多功能测量系统。
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