研究与开发
如何测量
创新?

很简单:研发部门尤其需要高精度的结果、可靠的工具和平起平坐的开发合作伙伴。数十年以来,E+H Metrology的工程团队始终是弗劳恩霍夫研究所和多所工业大学等著名机构的忠实研究合作伙伴。我们用明天的标尺,来衡量未来的创新

  • 创新型测量设备——可个性化定制
  • 技术精湛的合作伙伴,为您的发展助力
  • 由物理学家、工程师和软件专家组成的专业团队
  • 合同测量、参考测量、材料测试
  • 特殊材料:玻璃、蓝宝石、石英、碳化硅
  • 薄膜研究及材料科学
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半导体研究:
多多益善

半导体行业的核心是研发,而这里也是整个行业的“敏感”部位。

竞争压力与日俱增:中国政府部门和企业正在大力扶植研究领域。

需求不断增长:芯片设计日趋复杂和微型化,对个性化定制产品的需求极高。这些都需要国际化的专业技术网络。

步伐加快:产品生命周期不断缩短,同时,对降低产品上市时间和按时交货的要求也越来越高。这就需要创新的理念。

E+H Metrology能够从一开始就为您提供半导体技术研发支持:

  • 可测量的维度:我们的测量仪和测量软件是业界顶尖的,灵活性极强、维护成本极低、使用极为方便的工具。
  • 定制化技术:我们的测量系统能够完全满足您的个性化研发需求。
  • 以人为本:高科技是人创造的——我们的研发团队能够为您的任何项目提供专业支持。
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材料科学:
创新的推手

据目前预测,西方高科技国家约70%的国民生产总值与创新材料的开发直接有关。机械工程、化学工业、微电子及汽车工业等关键行业需要在开发材料时获得可测量的结果,以解决未来紧迫问题。我们以“made to measure”的可靠性和专业技术,为您提供支持。

  • 与弗劳恩霍夫研究所的长期研究合作伙伴关系
  • 拥有材料甚至在如温度等极端条件下的丰富的专业知识
  • 运作3800多台测量设备
  • 根据您的要求自主研发和生产
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应用

表面

波纹度和粗糙度
线切痕
纳米形貌
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⼏何

厚度
TTV(总厚度变化)
翘曲度及弯曲度
薄膜应⼒
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电气性能

电阻率
表面电阻
P/N 注释
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"E+H Metrology 的研发团队多次在言行上给予了我们大力支持!"

客户 · 摘自2021年E+H customer & partner survey(E+H客户及合作伙伴调研)

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我们能为您做些什么?
欢迎联系我们的团队

您还有问题或疑问?我们将非常乐意为您提供个性化建议。

Peter Michel先生

电话 +49 (0)721 83118-17

sales(at)eh-metrology.com

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