MX 203-4-37-Q
应用
用于 2-4" 非导电和半绝缘晶片的快速非接触式⼏何测量仪。
高产能：MX203-4-37-Q 具有 37 个测量点，最多可在 10 秒内测量每个晶片。10 秒。它可以控制厚度和平面度。通过各种中心框架灵活调整晶片尺寸。适用于非导电基底（石英、石英石、铌酸锂、钽酸锂）和半绝缘材料（如砷化镓或碳化硅）制成的晶片。配有功能强大的MX-NT 操作软件。
用于 2-4" 非导电和半绝缘晶片的快速非接触式⼏何测量仪。
高产能：MX203-4-37-Q 具有 37 个测量点，最多可在 10 秒内测量每个晶片。10 秒。它可以控制厚度和平面度。通过各种中心框架灵活调整晶片尺寸。适用于非导电基底（石英、石英石、铌酸锂、钽酸锂）和半绝缘材料（如砷化镓或碳化硅）制成的晶片。配有功能强大的MX-NT 操作软件。
