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优势和特点
Global Nanoscope 集创新技术和多种应用领域于一身，具有公认的优势，如无缝集成性和出色的支持。
- 全表面测量：为您带来无与伦比的竞争优势：缝合已成为过去。
- 最快速度：GNS 可在 30 秒内完成基底测量。1-2 分钟后，您就会收到已确定数据的 3D 评估结果。
- 真正的纳米测绘：GNS 为分析目的提供可靠的纳米高度分辨率。
- 对振动不敏感：许多高精度计量系统只有在绝对无振动的情况下才能可靠使用。然而，GNS 可抵御现代生产环境中的地面振动和运动干扰。
- 经济实惠：尽管是高科技产品，GNS 的维护成本却非常低，所有部件都非常坚固耐用。
- 全自动、可集成：GNS 是全自动测量系统，可用于任何工作流程环境。
- 咨询和支持：在 GNS 的整个使用寿命期间，我们和当地经销商可为您提供个性化规划、咨询和支持。
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GNS 的应用可能性与其功能范围一样全面。让我们来激发您的灵感！
- 任何表面评估和分类都可以通过 Global Nanoscope 以非接触方式快速实现，例如
- 凹点识别
- 缺陷分析
- 表面峰谷分析 - 晶圆制造：用于对晶片制造过程中的许多生产步骤（如研磨、抛光）进行快速、全面的过程控制
- 芯片制造：Global Nanoscope 特别适用于待处理晶片的快速进料检测。
- 根据《SEMI M43 晶圆纳米形貌报告指南》进行分析：确定纳米范围内符合标准的细节值。
- 玻璃和光学行业：所有反射表面都适合通过 Global Nanoscope 进行纳米精度测量。
Global Nanoscope 还可用于医疗技术、能源或研发等许多其他行业。
请向我们的团队咨询您的需求！
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创新技术
您已经了解 Makyoh 方法？我们专有的、经 AMA 批准的先进 Makyoh 技术比以前的测量方法更进一步：
- E+H Metrology 高级 Makyoh：传统的 Makyoh 系统提供二维灰度图像，显示表面的不规则性。然而，这种表面结构的实际高度对于工业应用来说至关重要，尤其是在晶圆生产等敏感工艺中。因此，传统的 Makyoh 系统只能进行定性测量：通常，标准的 Makyoh 图像非常模糊。
- 而基于 E+H 高级 Makyoh 的系统则能在一次测量过程中确定表面的真实高度信息。
- Global Nanoscope 也能提供经典的二维 Makyoh 图像，但分辨率非常高。因此，我们的系统能够进行定性和定量测量。
- 高级 Makyoh 图像数据可根据需要进行进一步处理：用于检测、复杂的三维分析或通过现有的 IT 景观和控制系统进行评估。
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